Maksud "自动测试仪表" dalam kamus Cina

SEBUTAN 自动测试仪表 DALAM CINA

自	动	测	试	仪	表
zì	dòng	cè	shì	yí	biǎo

APAKAH MAKSUD 自动测试仪表 dalam CINA?

Definisi 自动测试仪表 dalam kamus Cina

Instrumen ujian automatik Instrumen yang boleh mengukur parameter yang diperlukan dengan sendirinya tanpa sebarang penyertaan langsung. Boleh mencatat dan menyimpan data ukuran secara automatik untuk digunakan dalam operasi peralatan penyelidikan. Seperti perakam penerbangan. Jika isyarat parameter diukur adalah input kepada sistem pemprosesan dan kemudian output selepas pemprosesan, tujuan kawalan automatik boleh dicapai.

自动测试仪表 在无人直接参加下，能自行测量所需参数的仪表。能自动记录储存测量数据，以供研究设备运行情况之用。如飞行记录仪。若把所测参数信号输入处理系统，经处理后再输出，则可达到自动控制的目的。

TERJEMAHAN 自动测试仪表

Cari terjemahan 自动测试仪表 kepada 25 bahasa dengan penterjemah Cina pelbagai bahasa kami.

Terjemahan 自动测试仪表 dari Cina ke bahasa lain yang dibentangkan dalam bahagian ini telah diperolehi menerusi terjemahan statistik automatik; di mana unit terjemahan penting adalah perkataan «自动测试仪表» dalam Cina.

• Cina: 自动测试仪表
• Penterjemah Cina - Czech: Equipo de prueba automática
• Penterjemah Cina - Corsica: Automatic test equipment
• Penterjemah Cina - Hindi: स्वचालित परीक्षण उपकरण
• Penterjemah Cina - Amhara: معدات الاختبار التلقائي
• Penterjemah Cina - Rusia: Автоматическое испытательное оборудование
• Penterjemah Cina - Punjabi: Equipamento de teste automático
• Penterjemah Cina - Basque: স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষা সরঞ্জাম
• Penterjemah Cina - Frisia: Équipement de test automatique
• Penterjemah Cina - Melayu: peralatan ujian automatik
• Penterjemah Cina - Chichewa: Automatic Test Equipment
• Penterjemah Cina - Jepun: 自動試験装置
• Penterjemah Cina - Kreol Haiti: 자동 테스트 장비
• Penterjemah Cina - Jerman: peralatan test otomatis
• Penterjemah Cina - Vietnam: Thiết bị kiểm tra tự động
• Penterjemah Cina - Tagalog: தானியங்கி சோதனை உபகரணங்கள்
• Penterjemah Cina - Marathi: स्वयंचलित चाचणी उपकरणे
• Penterjemah Cina - Turki: Otomatik test ekipmanı
• Penterjemah Cina - Itali: Apparecchiature di test automatico
• Penterjemah Cina - Poland: Automatyczne urządzenia do testowania
• Penterjemah Cina - Ukraine: Автоматичне випробувальне обладнання
• Penterjemah Cina - Romania: Echipamente de testare automată
• Penterjemah Cina - Cina: Αυτόματος εξοπλισμός δοκιμής
• Penterjemah Cina - Afrikaans: Outomatiese toets toerusting
• Penterjemah Cina - Swahili: Automatisk testutrustning
• Penterjemah Cina - Parsi: Automatisk testutstyr

CINA BUKU YANG BERKAIT DENGAN «自动测试仪表»

Ketahui penggunaan 自动测试仪表 dalam pilihan bibliografi berikut. Buku yang berkait dengan 自动测试仪表 dan ekstrak ringkas dari yang sama untuk menyediakan konteks penggunaannya dalam kesusasteraan Cina.

计算机网络实用教程 - 第 226 页

FLUKEDSP - l00 测试仪由主机和智能远端单元组成。主机主要有四个功能键: TEST 键用于线路的自动测试; SAVE 键用于保存当前测试结果; ENTER 键用于确认操作; EXIT 键用于从当前功能或屏幕显示界面退出。另外还有四个箭头罐可以用于屏幕 ...

刘志华, 2006

计算机网络管理技术 - 第 209 页

Yes No 图 7 - 25 光纤测试提示信启 SET REFERENCE (Smart Remote Mode)年启 PressTEST ... 帧中继测试技术帧中继测试主要使用帧中继测试仪 FLUKE660 设备。帧中继测试仪 ... FLUKE660 帧中继测试仪可自动识别帧中继和链路配置。它的单 ...

杨云江, 2005

中国科学研究与技术开发机构要覽 - 第 3 卷 - 第 312 页

... 部·市级科技成果奖·所长刘清华真所长李洪发刘福宽邮电部北京仪表研究所地址,Jb 京市通县北苑电话, 9523801 电报挂号 20762 挞准订立 m 构时间 1973 年夕鼻 m 构捉 1 设有科研部(内设数字仪表·光纤仪表·模拟仪表·自动测试仪表研究组与结构 ...

中国科学研究与技术开发机构要覽编辑委员会, 1987

江西省电子工业志 - 第 89 页

1985 年,该产品经改型后,定名为 1 型^ 3121 型数字集成电路测试仪。 1979 年,这个厂采用数字显示和全自动测试的新技术,研制成功 80 - 2 型数字集成电路自动测试仪,性能指标处国内领先地位, 1982 年获省科技成果四等奖,共生产了 137 部。 1986 年 ...

《江西省电子工业志》编纂委员会, 1999

电子工业技术词典 - 第 1 卷 - 第 125 页

33-146 线障脉冲测试仪... 33–157 集成电路直流参数微分相位... 33—146 电阻测量仪... 33–157 测试仪... 33 一 139 网络分析仪... 33—146 电平图示仪... ... 33–158 集成电路平均延迟自动网络分析仪... 33-147 通路特性自动测试时间测量仪.

电子工业技术词典编辑委员会, 1980

黑龍江省誌: 电子工业志 - 第 24 卷 - 第 181 页

... t 3 % , 0 , 05 微亨。测量全部自动化,测试速度快,较普通 Q 表速度提高 4 - 5 倍,无功参量精度提高 10 倍,测量结果数字显示、 ... (三)微电阻测试仪哈尔滨电子仪器厂 1980 年 4 月,从四机部华北计算技术研究所以 5 万元购买的专利成果。 YK - 2 型印制 ...

黑龙江省地方志编纂委员会, 2003

网络管理技术专家门诊

施政, 吴进, 叶振建. 1 /测试信息插座测试信息插座时·请将双纹线的一头插入插座·另一头插入 Ne @丁 o0 @测试仪。选择自动测试· Ne 汀 o0 @会自动发现以太网的连接并提供以下你所斋要的信息:检查工作的链路状况、检查工作 ...

施政, ‎吴进, ‎叶振建, 2005

半导体集成电路 - 第 404 页

随着 LSI / VLSI 的发展,电路日趋复杂,测试问题就更突出了。对于 MSI 电路(如 100 门左右) ,利用人工测试与自动测试仪可以较容易地完成其各种功能测试,但对 LSI / VLSI 电路来讲,要进行全功能测试是不大可能的。这是因为测试时间太长,且成本太高。

朱正涌, 2001