ஆங்கிலம்இல் ELECTRON PROBE MICROANALYSIS இன் அர்த்தம் என்ன?
எலக்ட்ரான் நுணக்கம்
ஒரு எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கி, எலக்ட்ரான் ப்ராப் மைக்னாசியாசர் அல்லது எலக்ட்ரான் மைக்ரோ ப்ரெப் பகுப்பான் என்று அழைக்கப்படும் ஒரு சிறிய பகுதியாகும். இது ஒரு ஸ்கேனிங் எலக்ட்ரான் நுண்ணோக்கிக்கு இதேபோல் செயல்படுகிறது: மாதிரி எலக்ட்ரான் கற்றை மூலம் குண்டு வீசப்பட்டு, பகுப்பாய்வு செய்யப்படும் கூறுகளுக்கு பண்புகளை உள்ள எக்ஸ்-கதிர்கள் வெளிப்படுத்தும். இது சிறிய மாதிரி தொகுதிகளில் உள்ள உறுப்புகளின் உறுப்புகள் தீர்மானிக்கப்பட வேண்டும். போரோன் முதல் புளூடானியம் வரையிலான கூறுகளின் செறிவுகள், ஒரு மில்லியனுக்கு 100 பாகங்களைக் கொண்ட அளவை அளவிட முடியும். EMPA களின் சமீபத்திய மேம்பாடுகள் துல்லியமாக 10 ppm இன் அடிப்படை செறிவுகளை அளவிடுகின்றன.
ஆங்கிலம் அகராதியில் electron probe microanalysis இன் வரையறை
எலக்ட்ரான் ஆய்வு நுண்ணுயிரியலின் அகராதியின் வரையறை என்பது ஒரு மிக சிறிய அளவிலான பொருளின் பகுப்பாய்வுக்கான ஒரு நுட்பமாகும், இது எலக்ட்ரான்களின் ஒரு குறுகிய பீம் மூலம் வெடித்து, இதன் விளைவாக எக்ஸ்-ரே எமிஷன் ஸ்பெக்ட்ரம் பரிசோதிக்கப்படுகிறது.
«ELECTRON PROBE MICROANALYSIS» தொடர்புடைய ஆங்கிலம் புத்தகங்கள்
பின்வரும் புத்தக விவரத்தொகுப்புத் தேர்ந்தெடுப்பில்
electron probe microanalysis இன் பயன்பாட்டைக் கண்டறியுங்கள்.
electron probe microanalysis தொடர்பான புத்தகங்கள் மற்றும் ஆங்கிலம் இலக்கியத்தில் அதன் பயன்பாட்டுச் சூழலை வழங்குவதற்கு அதிலிருந்து பெறப்பட்ட சுருக்கமான சாரங்களைத் தொடர்புபடுத்துகின்றன.
1
Electron Probe Quantitation
These are described in this publi cation with all the details required for practical application. Neither the editors nor NIST wish to endorse any single approach.
K.F.J. Heinrich, D. Newbury,
1991
2
Symposium on Advances in
Electron Metallography and
Electron ...
X-RAY DIFFRACTION IN THE ELECTRON PROBE MICROANALYZER* By B. H.
Heise1 Synopsis The electron probe microanalyzer is shown to be a useful X-ray
diffraction instrument which produces a particular type of diffraction pattern ...
3
Scanning
Electron Microscopy: Physics of Image Formation and ...
[10.99] G. Springer: The correction for continuum fluorescence in electron probe
microanalysis. Neues Jahrbuch Miner. Abh. 106, 241 (1967) [10.100] G. Springer
: Fluorescence by continuum radiation in multi-element targets. In 6th Int'l.
4
Catalog of National Bureau of Standards publications, 1966-1976
SP305-6. Electron probe; Lunar samples; Microanalysis; Minerals; Rocks;
Analysis; //995. SP305-3. Electron probe; Microanalysis; Metallurgy;
Spectrometry; X- rays; Applications; 1 1586. SP305-2. Electron probe;
Microanalysis; Microscopy; ...
United States. National Bureau of Standards. Technical Information and Publications Division, Betty L. Burris, Rebecca J. Morehouse,
1978
5
Quantitative
Electron-
Probe Microanalysis
This volume provides a balanced treatment of both practical and theoretical aspects of the techniques of electron-probe microanalysis, and is particularly valuable for both the practical microanalyst interested in problems of specimen ...
6
Publications of the National Bureau of Standards ... catalog
Electron probe; Microanalysis; Scanning electron microscopy; X-ray spectrometry
; Cathodoluminescence; Electron backscatter; 10651. Electron probe analysis;
Metallography; Powder metallurgy; Spectrometric standards; Standard Reference
...
United States. National Bureau of Standards,
1968
7
Publications of the National Bureau of Standards, 1976 ...
Electron microscopy; electron probe microanalysis; electron- specimen
interactions; Monte Carlo electron trajectory simulation; scanning electron
microscopy; x-ray generation; SP460, pp. 45-60 (Dec. 1976). Electron
microscopy; Fe-Cr alloys; ...
United States. National Bureau of Standards, Betty L. Burris,
1977
Quantitative electron probe microanalysis: absorption correction uncertainty.
Milcrochim. Acta pp. 182-200. Kelly, C. J ., Short, M. A., and Reynolds, 0. A. (1971
). Pulse height stabilization in gas proportional X-ray detector systems. Proc. Nat.
Helmut Erich Landsberg, Jacques van Mieghem,
1973
9
X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances
Bastin, G. F., Dijkstra, J. M., Heijligers, H. J. M. PROZA96: an improved matrix
correction program for electron probe microanalysis, based on a double
gaussian φ(ρz) approach. X-ray Spectrom., 27, 3–10 (1998). Bastin, G. F.,
Dijkstra, J. M., ...
Kouichi Tsuji, Jasna Injuk, René Van Grieken,
2005
10
X-ray
Microanalysis in Biology: Experimental Techniques and ...
Karl Zierold A Introduction Electron probe microanalysis is a sensitive tool to
localise elements in biological cells and tissues. In comparison to most
specimens studied by this method in materials sciences, cells are not static
objects, but vary in ...
«ELECTRON PROBE MICROANALYSIS» வார்த்தையைக் கொண்டுள்ள புதிய உருப்படிகள்
பின்வரும் செய்தி உருப்படிகளின் சூழலில்
electron probe microanalysis என்ற வார்த்தையைப் பயன்படுத்துவது பற்றியும் எப்படிப் பயன்படுத்துவது என்பதைப் பற்றியும் தேசிய மற்றும் பன்னாட்டு அச்சகங்கள் என்ன பேசியிருக்கின்றன என்பதைக் கண்டறியுங்கள்.
Analysis shows elements not acting in nature as previously modeled
Measurements were performed on beamlines at the Stanford Synchrotron Radiation Lightsource. Quantitative electron probe microanalysis of ... «Phys.Org, ஜூன் 15»
Using Automated Multivariate Statistical Phase Analysis of EDS …
... material evaluation is performed using X-ray diffraction (XRD), inductively-coupled plasma (ICP) and electron probe microanalysis (EPMA). «Azom.com, மே 15»
Mineral 'fingerprints' to aid more cost-effective exploration
... mass spectrometry (LA-ICP-MS) and electron probe microanalysis (EPMA), that allow measurements with increasingly lower detection limits, ... «Australian Mining, ஜூன் 14»
Iron-bearing minerals in sediments react with and immobilize …
... x-ray photoelectron spectroscopy to determine the surface composition of these minerals, and electron probe microanalysis to determine the ... «Phys.Org, பிப்ரவரி 14»
Achieving Sub-Nanometer Depth Resolution Energy (EXLIE) SIMS …
Since pioneering Electron Probe MicroAnalysis (EPMA) in the 1950's and Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) in the 1960's, CAMECA ... «Azom.com, அக்டோபர் 10»
AMETEK Acquires Imago Scientific Instruments
... electron probe microanalysis (EPMA) instruments, and optical emission and X-ray fluorescence spectrometers for the metals, environmental, ... «PR Newswire, ஏப்ரல் 10»
Ionic high-pressure form of elemental boron
X-ray electron probe microanalysis (S400, Leica/PGT Spirit and SX-50 Camebax, Cameca) of the recovered samples revealed that the ... «Nature.com, ஜனவரி 09»