Significato di "自动测试仪表" sul dizionario di cinese

PRONUNCIA DI 自动测试仪表 IN CINESE

自	动	测	试	仪	表
zì	dòng	cè	shì	yí	biǎo

CHE SIGNIFICA 自动测试仪表 IN CINESE

definizione di 自动测试仪表 nel dizionario cinese

Strumento di test automatico in assenza di partecipazione diretta, in grado di misurare i parametri richiesti dello strumento. Può registrare e memorizzare automaticamente i dati di misurazione per il funzionamento delle apparecchiature di ricerca. Come registratore di volo. Se il sistema di elaborazione del segnale di ingresso del segnale misurato, elaborato e quindi emesso, è possibile raggiungere lo scopo del controllo automatico.

自动测试仪表 在无人直接参加下，能自行测量所需参数的仪表。能自动记录储存测量数据，以供研究设备运行情况之用。如飞行记录仪。若把所测参数信号输入处理系统，经处理后再输出，则可达到自动控制的目的。

TRADUZIONE DI 自动测试仪表

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Le traduzioni di 自动测试仪表 verso altre lingue presenti in questa sezione sono il risultato di una traduzione automatica statistica; dove l'unità essenziale della traduzione è la parola «自动测试仪表» in cinese.

• cinese: 自动测试仪表
• Traduttore italiano - spagnolo: Equipo de prueba automática
• Traduttore italiano - inglese: Automatic test equipment
• Traduttore italiano - hindi: स्वचालित परीक्षण उपकरण
• Traduttore italiano - arabo: معدات الاختبار التلقائي
• Traduttore italiano - russo: Автоматическое испытательное оборудование
• Traduttore italiano - portoghese: Equipamento de teste automático
• Traduttore italiano - bengalese: স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষা সরঞ্জাম
• Traduttore italiano - francese: Équipement de test automatique
• Traduttore italiano - malese: peralatan ujian automatik
• Traduttore italiano - tedesco: Automatic Test Equipment
• Traduttore italiano - giapponese: 自動試験装置
• Traduttore italiano - coreano: 자동 테스트 장비
• Traduttore italiano - giavanese: peralatan test otomatis
• Traduttore italiano - vietnamita: Thiết bị kiểm tra tự động
• Traduttore italiano - tamil: தானியங்கி சோதனை உபகரணங்கள்
• Traduttore italiano - marathi: स्वयंचलित चाचणी उपकरणे
• Traduttore italiano - turco: Otomatik test ekipmanı
• Traduttore italiano - italiano: Apparecchiature di test automatico
• Traduttore italiano - polacco: Automatyczne urządzenia do testowania
• Traduttore italiano - ucraino: Автоматичне випробувальне обладнання
• Traduttore italiano - rumeno: Echipamente de testare automată
• Traduttore italiano - greco: Αυτόματος εξοπλισμός δοκιμής
• Traduttore italiano - afrikaans: Outomatiese toets toerusting
• Traduttore italiano - svedese: Automatisk testutrustning
• Traduttore italiano - norvegese: Automatisk testutstyr

8 LIBRI IN CINESE ASSOCIATI CON «自动测试仪表»

Scopri l'uso di 自动测试仪表 nella seguente selezione bibliografica. Libri associati con 自动测试仪表 e piccoli estratti per contestualizzare il loro uso nella letteratura.

计算机网络实用教程 - 第 226 页

FLUKEDSP - l00 测试仪由主机和智能远端单元组成。主机主要有四个功能键: TEST 键用于线路的自动测试; SAVE 键用于保存当前测试结果; ENTER 键用于确认操作; EXIT 键用于从当前功能或屏幕显示界面退出。另外还有四个箭头罐可以用于屏幕 ...

刘志华, 2006

计算机网络管理技术 - 第 209 页

Yes No 图 7 - 25 光纤测试提示信启 SET REFERENCE (Smart Remote Mode)年启 PressTEST ... 帧中继测试技术帧中继测试主要使用帧中继测试仪 FLUKE660 设备。帧中继测试仪 ... FLUKE660 帧中继测试仪可自动识别帧中继和链路配置。它的单 ...

杨云江, 2005

中国科学研究与技术开发机构要覽 - 第 3 卷 - 第 312 页

... 部·市级科技成果奖·所长刘清华真所长李洪发刘福宽邮电部北京仪表研究所地址,Jb 京市通县北苑电话, 9523801 电报挂号 20762 挞准订立 m 构时间 1973 年夕鼻 m 构捉 1 设有科研部(内设数字仪表·光纤仪表·模拟仪表·自动测试仪表研究组与结构 ...

中国科学研究与技术开发机构要覽编辑委员会, 1987

江西省电子工业志 - 第 89 页

1985 年,该产品经改型后,定名为 1 型^ 3121 型数字集成电路测试仪。 1979 年,这个厂采用数字显示和全自动测试的新技术,研制成功 80 - 2 型数字集成电路自动测试仪,性能指标处国内领先地位, 1982 年获省科技成果四等奖,共生产了 137 部。 1986 年 ...

《江西省电子工业志》编纂委员会, 1999

电子工业技术词典 - 第 1 卷 - 第 125 页

33-146 线障脉冲测试仪... 33–157 集成电路直流参数微分相位... 33—146 电阻测量仪... 33–157 测试仪... 33 一 139 网络分析仪... 33—146 电平图示仪... ... 33–158 集成电路平均延迟自动网络分析仪... 33-147 通路特性自动测试时间测量仪.

电子工业技术词典编辑委员会, 1980

黑龍江省誌: 电子工业志 - 第 24 卷 - 第 181 页

... t 3 % , 0 , 05 微亨。测量全部自动化,测试速度快,较普通 Q 表速度提高 4 - 5 倍,无功参量精度提高 10 倍,测量结果数字显示、 ... (三)微电阻测试仪哈尔滨电子仪器厂 1980 年 4 月,从四机部华北计算技术研究所以 5 万元购买的专利成果。 YK - 2 型印制 ...

黑龙江省地方志编纂委员会, 2003

网络管理技术专家门诊

施政, 吴进, 叶振建. 1 /测试信息插座测试信息插座时·请将双纹线的一头插入插座·另一头插入 Ne @丁 o0 @测试仪。选择自动测试· Ne 汀 o0 @会自动发现以太网的连接并提供以下你所斋要的信息:检查工作的链路状况、检查工作 ...

施政, ‎吴进, ‎叶振建, 2005

半导体集成电路 - 第 404 页

随着 LSI / VLSI 的发展,电路日趋复杂,测试问题就更突出了。对于 MSI 电路(如 100 门左右) ,利用人工测试与自动测试仪可以较容易地完成其各种功能测试,但对 LSI / VLSI 电路来讲,要进行全功能测试是不大可能的。这是因为测试时间太长,且成本太高。

朱正涌, 2001